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第527章 星河cad（第2页）

他在黑板上写了几行字。

亚稳态：颗芯片出现莫名其妙的错误，复现极其困难。

复位问题：颗芯片上电后状态机死锁。

多时钟域：颗芯片跨时钟域同步失败。

罕见输入序列：颗芯片在某条极特殊的指令下死机。

戚工指着第一行：“触器的输出在时钟沿附近变化时，会进入一种不确定的状态。这个状态可能在几个纳秒后稳定，也可能持续几百纳秒。仿真假设触器输出永远是稳定的，无法模拟亚稳态。”

他画了一个触器的时序图，在时钟沿附近标了一个不确定的区域。

“测试中现的错误，大概率是亚稳态导致的。概率很低，复现极难。”

他指着第二行：“上电后，复位信号释放的时刻和时钟沿接近，导致触器进入亚稳态。仿真中通常假设复位信号在时钟沿之间稳定变化，没有模拟这种边界情况。”

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他指着第三行：“芯片内部有多个时钟域，跨时钟域的信号需要同步器来消除亚稳态。实测现，同步器的设计有缺陷，数据丢失。”

他在图上画了两个时钟域，中间加了一个同步器。

“仿真模型中的同步器是理想的，假设亚稳态传播时间为零。实际同步器中，亚稳态可能传播几个纳秒，导致数据错误。”

他指着最后一行：“kl-cu有一颗芯片，在执行某条极特殊的指令序列时死机。我们经过极限测试，现概率约在万分之一，跑了几万条指令才触一次。仿真时间有限，不可能跑完所有输入组合。”

他放下粉笔，看着台下。

“这些问题，都是分布式系统无能为力的。系统能验证设计是否正确，但验证不了在真实物理世界中的行为。”

陈光远站起来，走到黑板前。

“除了以上内容，我再补充一些工艺波动与制造偏差之间的问题。”

他在黑板上画了一个晶圆，标了几个区域。

“这一类问题与设计无关，纯属制造环节的物理随机性。分布式系统能做的，几乎为零。”

他指着晶圆示意图。

“先是关键尺寸偏差。光刻后晶体管的栅长偏短或偏长，导致度或漏电异常。晶圆边缘的偏差比中心大了一倍。”

“其次是套刻偏差。两层掩模的对准偏移，导致晶体管特性变化。版图设计时预留了套刻余量，但实际偏差过了余量。”

“再次是接触孔通孔失效。接触孔未完全打开或填充不良，局部断路或高阻。刻蚀和沉积工艺的均匀性，系统无法预测。”

“第四是掺杂浓度波动。离子注入的剂量不均匀，导致阈值电压漂移。扩散炉的温度分布和注入机的束流稳定性，系统不知道。”

“最后是氧化层厚度偏差。栅氧化层厚度不均匀，影响晶体管性能。氧化炉的气氛和温度历史，系统不知道。”

他放下粉笔，转过身。

“这几样是比较明显的，其他的，还有封装与测试引入的问题。”

他掰着手指头数。

“键合线短路、断路，封装后芯片不工作。键合线电感导致过冲，输出信号有大的振铃，可能误触后级。热膨胀系数失配，温度循环后焊点开裂。测试向量不完整，自检通过但实际应用中出错。”

他看着台下：“这些问题，系统都不涉及。”

陈光远讲完后，会议室里沉默了好一会儿。

宋颜像是在消化刚才听到的所有问题，过了好一会儿才开口说话。

“各位，都听清楚了？昆仑第一版流片，全面溃败。颗芯片，没有一颗全好。这是事实，昆仑是我亲自带队设计的，我也深受打击。”

他顿了顿，目光从每一张脸上扫过。

“但溃败不可怕，可怕的是不知道败在哪儿。今天我们把问题都摊开了，时序收敛、功耗、存储、仿真死角、工艺波动、封装测试，每一条都清清楚楚。”

“我不怕大家笑话，集成电路是新产业，我们都在摸着石头过活，今天我们栽倒了，就要让大家知道我们倒在哪里，好让大家避开这个坑。”

他站起来，走到黑板前，拿起粉笔。

“分布式辅助电路设计系统，帮我们把会不会的问题解决了。逻辑功能正确，版图与逻辑图一致，设计规则检查通过。这是我们以前想都不敢想的。”

他在黑板上写了一个“会”字。

“但现在我们要解决的是好不好。”他在旁边写了一个“好”字，“跑得快不快、功耗低不低、扛不扛得住高温高压、工艺波动来了能不能顶住。”